儀器簡(jiǎn)介:
薄膜應(yīng)力儀,系統(tǒng)采用非接觸MOS激光技術(shù);不但可以對(duì)薄膜的應(yīng)力、表面曲率和翹曲進(jìn)行精確的測(cè)量,而且還可二維應(yīng)力Mapping成像統(tǒng)計(jì)分析;同時(shí)可精確測(cè)量應(yīng)力、曲率隨溫度變化的關(guān)系;
技術(shù)參數(shù):
1.XY雙向程序控制掃描平臺(tái)掃描范圍:300mm;2m (XY)(可選);
2.掃描速度:20mm/s(x,y);
3. XY雙向掃描平臺(tái)掃描*小步進(jìn)/分辨率:1 μm;
4.平均曲率分辨率:2×10-5 1/m (1-sigma);
5.中心曲率測(cè)量范圍:Minimum Concave: 2.0m,Minimum Convex: -2.0m;
Maximum Concave: 50km Maximum Convex: - 50km;
6.應(yīng)力測(cè)量精度:1% 或0.32MPa;
7.中心應(yīng)力測(cè)量范圍:Minimum Concave: 0.32MPa Minimum Convex: 0.32MPa;
Maximum Concave: 7.80 GPa Maximum Convex: 7.80 GPa
8.應(yīng)力測(cè)量分辨:0.32MPa;
9.平均應(yīng)力重復(fù)性:0.02MPa;
10.Bow測(cè)量高度:0.67mm;
11.Bow測(cè)量分辨率:30nm;